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產(chǎn)品分類
聯(lián)系人:劉水紅

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公司地址:深圳市福田區(qū)深南中路3037號(hào)南光捷佳大廈
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QQ:528642442
  • 產(chǎn)品名稱:OmniScan X3相控陣探傷儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 產(chǎn)品廠商:其它品牌
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
OmniScan X3相控陣探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和**成像功能,OmniScan X3相控陣探傷儀可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。
詳情介紹:

OmniScan X3相控陣探傷儀

提供全聚焦方式(TFM)功能的OmniScan X3相控陣探傷儀
信心滿滿,昭然可見
OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和**成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測(cè)。

獨(dú)特**的全聚焦方式(TFM)
更好的缺陷成像性能,可以更清晰地顯示微小的缺陷
可為早期的高溫氫致(HTHA)缺陷成像,
以在*為關(guān)鍵的早期探測(cè)到這種缺陷
機(jī)載聲學(xué)影響圖(AIM)的反射率模擬器有助于
以圖像方式顯示全聚焦方式(TFM)的靈敏度,還可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)節(jié)
屏幕上*多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量

改進(jìn)的相控陣技術(shù)
速度是OmniScan MX2探傷儀的2倍(脈沖重復(fù)頻率)
單獨(dú)的衍射時(shí)差(TOFD)菜單,加快了工作流程
改進(jìn)的快速相控陣校準(zhǔn),使用戶享有更輕松的操作體驗(yàn)
800%的高波幅范圍,減少了重新掃查的需要
機(jī)載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,加速了創(chuàng)建設(shè)置的過程

迅速地投入到檢測(cè)工作中
機(jī)載掃查計(jì)劃、改進(jìn)的快速校準(zhǔn)和簡(jiǎn)化的用戶界面,有助于省去一些不必要的步驟,從而可使用戶在很短的時(shí)間內(nèi)完成檢測(cè)的設(shè)置工作。
如果您是OmniScan MX2儀器的用戶,您可以從現(xiàn)有的儀器迅速地過渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測(cè)或全聚焦方式(TFM),您可以通過OmniScan X3探傷儀輕松地學(xué)習(xí)這些知識(shí)。

性能可靠,令人信賴
符合IP65評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),防雨防塵
機(jī)載GPS,可提供采集數(shù)據(jù)的位置
可通過無線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng),以下載*新的軟件
得益于25 GB的文件容量,儀器可以無需停歇,持續(xù)掃查

OmniScan X3相控陣探傷儀檢測(cè)團(tuán)隊(duì)中的主力成員
OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測(cè)工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手:焊縫檢測(cè)、管線和管道的檢測(cè)、耐腐蝕合金的檢測(cè)、腐蝕成像、高溫氫致缺陷(HTHA)的檢測(cè)、初期裂紋的探測(cè)、復(fù)合材料的檢測(cè)和缺陷成像。

OmniScan X3相控陣探傷儀與現(xiàn)有的探頭和掃查器相兼容
32:128PR型號(hào),提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
還提供16:64PR和16:128PR型號(hào)
*多8個(gè)聲束組,1024個(gè)聚焦法則
與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容,方便了用戶轉(zhuǎn)換到新儀器的操作
64 GB的內(nèi)置存儲(chǔ)容量,還可以借助外置USB驅(qū)動(dòng)盤擴(kuò)展存儲(chǔ)容量

新一代OmniScan帶給您更美好的體驗(yàn)
OmniScan X3儀器的軟件性能強(qiáng)大,其簡(jiǎn)潔、現(xiàn)代的菜單結(jié)構(gòu)減少了按鍵的次數(shù),改進(jìn)了從開始設(shè)置到*后制作報(bào)告的整個(gè)檢測(cè)過程,因此無論新老用戶都會(huì)得心應(yīng)手地使用這款儀器。

OmniScan X3相控陣探傷儀實(shí)時(shí)全聚焦方式(TFM)包絡(luò)處理
儀器獨(dú)特的包絡(luò)處理功能,可以為缺陷生成高清全聚焦方式(TFM)圖像。圖中的缺陷在背景噪聲的襯托下,顯得更為清晰鮮明。

OmniScan X3相控陣探傷儀屏幕上*多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量
在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(聲波組),使檢測(cè)人員更有希望探測(cè)到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以*多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來自每種模式的響應(yīng)和特征,如:端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面,可被綜合在一起進(jìn)行分析,從而可以確認(rèn)缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。
 

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